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31W一米平面光栅攝譜儀
31W一米平面光栅攝譜儀
添加時間:2016-07-19
一.用途:
本儀器利用平面反射式光栅分光研究物質的成份和含量,主要用于金屬合金(包括礦物礦井石)的日常定性量分析,純金屬和材料的雜質鑒定,與各種附件配合,用作激光微區分析、記錄閃光和弱光現象。
二.儀器特點: 
1.光學系統采用艾伯特垂直對稱形式裝置,彗差及象散可矯正到理想程度,在較長譜面範圍内譜線清晰,結構均勻,靈敏度高。
2.儀器采用三透鏡消色差照明方法,狹縫得到均勻照明,使同一條譜線黑度均勻。
3.儀器縫前的哈特曼光欄及三階,九價減光闆。
4.适用控制箱控制譜過程。
5.儀器配備直流電弧,交流電弧光源,以适應不同分析任務的需要。
6.儀器配置工作台,安裝和操作方便。
7.在預處理階段的鐵樣品的标準波長處譜線清新。
8.中心波長顯示實現UI界面與人機互動。
9.采用高精密度的絲杆和光栅調節中心波長。
10.儀器采用全數字控制,可以實現相闆移動自動化。
11.儀器實現全數顯化,可直接顯示預燃、曝光、闆移的時間和中心波長。
三.規格:
工作波段:                          200nm~850nm
攝譜儀焦距:                      F=1050㎜
相對孔徑:                         A=1:22
狹縫主要技術指标:         寬度範圍0.002~0.3㎜          寬度分度值0.001㎜
                                             有效高度10㎜                 寬度再現性0.001㎜
波長顯示:                         計數器(nm)
光栅:                                 200條/㎜光栅2塊
外形尺寸:                         長×寬×高   1300×1500(包括導軌在内)×600㎜
重量:                                 100㎏
工作電源:                         380V  50Hz  20A
                                             220V  50Hz  20A
 

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